| 二维显微DIC | 微观结构应变测量解决方案 - 深圳市海塞姆科技有限公司
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二维显微应变测量系统

二维视觉显微应变测量系统是一看基于单目二维DIC技术的非接触式应变仪,通过高精度的体式显微镜或金相显微镜,配合原位加载台或冷热台,可实现微米级微观试样加载过程的图像采集,系统软件完成对图像的计算,并实时输出测量的变形结果。 


● 应用领域:生物材料、半导体材料、电子产品、复合材料

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技术亮点

  • 高低温加载环境

  • 0.1μm位移精度

  • 50μm级显微 应变测量

  • 光学自动对焦模组

产品优势

  • 1非接触式测量;
  • 2全场测量;
  • 3配置水平激光自动对焦模组,拍摄过程无需反复调焦;
  • 4不受温度限制,可实现高低温状态下测量,可测量范围-190℃至600℃;
  • 5不受应变范围限制,可测量应变范围:0.005%-2000%;
  • 6不受试样形状限制,板状、棒状、片状、线状、薄膜;
  • 7不受应变方向限制,可同时实现多个方向的变形和应变测量。
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